Von Submikrometrischer bis hin zu nanometrischer Genauigkeit in Sekunden.
Optische Messtechnik
Optische Messtechnik
Corning Tropel produziert ein komplettes Sortiment an berührungslosen Messinstrumenten, mit denen die Ebenheit, Parallelität, Höhe, Tiefe, Oberflächenbeschaffenheit, Rauheit und Dicke von Präzisionsoberflächen in Sekundenschnelle gemessen werden kann – und dies mit einer submikrometrischen bzw. nanometrischen Genauigkeit. Systeme von Tropel sind für viele Umgebungen konzipiert, darunter für Produktionsstätten und QC-Labore. Hier finden Sie das für Ihre jeweilige Anwendung passende System.
Der Bereich Corning OEM Instruments bietet Ihnen spezialisierte Engineering- und Produktionsdienste mit Mehrwert. Seit über 30 Jahren bereits liefern wir robuste Messlösungen für die Halbleiterindustrie. Nutzen Sie unser spezielles Fachwissen in den folgenden Bereichen: Optik, Mechanik und Elektrik sowie Softwarelösungen, Systemintegration, Engineering, Konstruktions- und Fertigungslösungen. Unser Schwerpunkt liegt darauf, Kunden zu helfen, zügig und kosteneffizient den Sprung vom Prototyp hin zu einem marktreifen Produkt zu schaffen.
Wir bedienen die Automobil-, Display-, Halbleiter-, Hydraulik- und Pneumatikmärkte sowie die Märkte für Datenspeicher, Verbraucherelektronik und Spektroskopie.
Wählen Sie Ihre Anwendung
Informationen zur Anwendung
Es sind ausführliche Informationen erhältlich, wie die messtechnischen Instrumente von Corning® Tropel® Fertigungskapazitäten und die Fertigungsausbeute in einer Vielzahl von Anwendungen verbessern.
Produkte
Tropel® Flatmaster®
Tropel® Flatmaster®
Branchenführende Oberflächenmessungen für die Produktion von Präzisionskomponenten.
Branchenführende Oberflächenmessungen für die Produktion von Präzisionskomponenten.
Mehr erfahrenTropel® FlatMaster® MSP
Tropel® FlatMaster® MSP
Das System mit einem frequenzscannenden Inferometer ermöglicht schnelle und akkurate Messtechniken für Halbleiter-Wafer.
Das System mit einem frequenzscannenden Inferometer ermöglicht schnelle und akkurate Messtechniken für Halbleiter-Wafer.
Mehr erfahrenTropel® UltraFlat™
Tropel® UltraFlat™
Profitieren Sie angesichts immer engerer Spezifikationen für die Ebenheit von Masken von der geringsten Messunsicherheit.
Profitieren Sie angesichts immer engerer Spezifikationen für die Ebenheit von Masken von der geringsten Messunsicherheit.
Mehr erfahrenTropel® Wafer Analysis
Tropel® Waferanalyse-Systeme
Hiermit können Sie Wafersubstrate in der Größenordnung von ca. 50 bis 450mm für verschiedene Materialtypen messen.
Hiermit können Sie Wafersubstrate in der Größenordnung von ca. 50 bis 450mm für verschiedene Materialtypen messen.
Mehr erfahren
Learn more about all of our
semiconductor manufacturing
capabilities from inspection
lenses to durable optical materials.
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